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3D表面测量学 |
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白光干涉测量法是用于获取在较低纳米范围内的高分辨率3D图形的成熟光学测量方法之一。
质量保证和研究的典型应用领域是不同粗糙度值的表面(晶片结构,镜子, 玻璃,金属),
我们提供以下类型的仪器:
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所有smartWLI系统功能强大的评估软件MountainsMap®结合提供,使用户可以基于模板创建简单甚至全面的报告。
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粗糙度测量 |
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当使用光学表面测量仪器时,用户先前面临的选择是使用触觉测量仪器测量轮廓线还是使用光学测量仪器来测量小区域的3D图像。 由于测量速度的提高,smartWLI系统现在都可以毫无疑问地使两者同时实现。 使用smartWLI系统可以以比触觉测量仪器甚至在单个轮廓线中测量的分辨率更高。测量面积更大。 由于该软件能够补偿触觉尖端的几何形状,因此仍然可以使用轮廓参数(Ra,Rz,Rmax ...),并且可以通过对数千个轮廓的统计观察以及3D图形来补充轮廓参数。 参数(Sa,Sz,Smax ...)。
我们提供以下类型的系统: |
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