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WinWinTec > Produkte > Weißlichtinterferometer zur 3D Messung der Oberflächentopografie |
Weißlichtinterferometer zur 3D-Messung der Oberflächentopografie |
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Die Weißlichtinterferometrie gehört zu den bewährten optischen Messverfahren für die Erfassung von 3D-Topografien mit Tiefenauflösungen im unteren Nanometerbereich. Aufgrund der parallelen Erfassung und Verarbeitung der Messpunkte können Höheninformationen großflächig und in sehr kurzer Zeit gewonnen werden.
Typische Einsatzfelder in der Qualitätssicherung und in der Forschung sind die Charakterisierung von Oberflächen verschiedener Rauheit (Waferstrukturen, Spiegel, Glas, Metalle), die Bestimmung von Stufenhöhen, die präzise Messung von gekrümmten Oberflächen, wie z.B. Mikrolinsen, und die berührungslose Messung der Zylinderlauffläche innen im Zylinder von Verbrennungsmotoren. Mit der Produktfamilie smartWLI bieten wir innovative Lösungen zur Anwendung dieses Messprinzips. Zur Steuerung und Auswertung des gesamten Messprozesses wird die bewährte smartWLI-Software eingesetzt. Die darin enthaltenen effizienten, robusten und hochgenauen Auswertealgorithmen sind das Ergebnis umfangreicher Forschungstätigkeit und Erfahrung auf diesem Gebiet.
Folgende Modelle werden angeboten:
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Alle smartWLI-Systeme werden in Kombination mit der äußerst vielseitigen Auswertungssoftware MountainsMap® geliefert, die es dem Anwender ermöglicht, auf der Basis von Vorlagen einfache oder auch umfassende Berichte zu erstellen.
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Rauheitsmessungen |
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Bei der Nutzung optischer Oberflächenmessgeräte wurde der Nutzer bisher vor die Wahl gestellt, entweder eine Profillinie mit einem taktilen Messgerät oder mit einem optischen Messgerät in 3D einen kleinen Bereich zu messen. Durch die Steigerung der Messgeschwindigkeit ist mit den smartWLI-Sensoren nun beides problemlos möglich. Große Bereiche können mit den smartWLI-Systemen mit deutlich höherer Auflösung gemessen werden, als dies ein taktiles Messgerät auch nur in einer einzigen Profillinie könnte. Da die Software in der Lage ist, die Geometrie der Tastnadel zu kompensieren, können Profilparameter (Ra, Rz, Rmax…) weiterhin verwendet und sowohl durch statistische Betrachtungen vieler tausend Profile als auch durch die Verwendung von 3D-Parametern (Sa, Sz, Smax…) ergänzt werden.
Folgende Modelle werden angeboten: |
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